Manyetik bilimdeki yeni büyük şey, yeni nesil elektroniklere güç sağlamayı vaat eden bir tür manyetizma olan altermanyetizmadır. Tüm dahili atomik dönüşlerin güçlü bir manyetik alan oluşturacak şekilde hizalandığı buzdolabı mıknatısı gibi ferromıknatıslardan farklı olarak, altermıknatısların net bir manyetik çekişi yoktur (içerisi güçlü manyetiktir, ancak dışarıdan manyetik olmayan görünür). Bu, iç spinlerin birbirini iptal ettiği antiferromıknatıslara benzer. Bununla birlikte, alternatif mıknatıslar, bilgiyi geleneksel mıknatıslardan daha verimli bir şekilde taşımalarına ve kontrol etmelerine olanak tanıyan güçlü dahili özellikleri korurlar.
Bu manyetizma sıfır net çekime sahip olduğundan, standart ölçüm araçları kullanılarak tespit edilmesi zordur. İki yeni makalede araştırmacılar, bir alternatif mıknatısın iç yapısının farklı yönlerini haritalamak ve ölçmek için X-ışını tekniklerini nasıl geliştirdiklerini ayrıntılarıyla anlatıyor.
Manyetik alanların haritalanması
Yayınlanan ilk makalede Fiziksel İnceleme Mektuplarıbilim adamları, RIXS-CD (Resonant Inelastik X-ışını Saçılımı-Dairesel Dikroizm) adı verilen gelişmiş bir X-ışını yöntemi geliştirdiler. Daha eski X-ışını teknikleri, bir alternatif manyetikteki manyetik bölgeleri (veya alanları) güvenilir bir şekilde haritalamak ve ayırt etmek için mücadele ediyor, ancak ekip bir alternatif manyetik malzeme örneğini bir X-ışını ışınının altında döndürdüğünde, her alan için benzersiz bir manyetik parmak izi oluşturdu. Bu onların bu manyetik alanların kesin haritalarını yapmalarına olanak sağladı.
Araştırmacılar makalelerinde “RIXS-CD, T-kıran manyetik düzenlerle bozulan üniter (uzay) simetriyi tespit ediyor. Bu, RIXS-CD’yi, doğrusal olmayanlar da dahil olmak üzere daha geniş bir anormal Hall antiferromıknatıs sınıfına yönelik potansiyel uygulamalarla XMCD’yi tamamlayıcı bir teknik haline getiriyor.”
Ölçüm gücü
Yine yayımlanan ikinci makalemizde Fiziksel İnceleme MektuplarıJaponya’daki Chiba Üniversitesi’nden Peter Krüger, tek, görünmez bir atom katmanının manyetik gücünü ölçmek için yeni bir teknik olan CD-RPED’i (Rezonant Fotoelektron Kırınımında Dairesel Dikroizm) önermektedir.
Bu teknik, X ışınlarını alternatif manyetik bir malzemedeki (AM) atomlara hedefleyerek onları elektron yaymaya zorlayarak çalışır. Çevreleyen manyetik katmanlar bu elektronları etkileyerek benzersiz bir desen (yankı) oluşturur. Bu yankının ölçülmesi, bilim adamlarının her bir gizli atom katmanının manyetik özelliklerini ölçmesine olanak tanır. “Temel bulgularımız herhangi bir AM için geçerlidir ve AM aday malzemelerinin manyetik karakterizasyonu için CD-RPED’i güçlü bir teknik haline getirmenin temelini oluşturur.”
Bu iki teknik sayesinde altermanyetizma artık görünmez değil. Bilim insanları, bu manyetizma biçiminin nasıl davrandığını anlamak ve gücünü ölçmek için gizli özelliklerini haritalandırabilecek ve ölçebilecekler. Bu, hesaplamaları gerçekleştirmek için elektronların içsel spininden yararlanarak yeni nesil spin tabanlı bilgi işlem teknolojilerinin hızlandırılmasına yardımcı olabilir.
Yazarımız Paul Arnold tarafından sizin için yazılan, Gaby Clark tarafından düzenlenen ve Robert Egan tarafından doğrulukları kontrol edilen ve gözden geçirilen bu makale, insanların dikkatli çalışmasının sonucudur. Bağımsız bilim gazeteciliğini canlı tutmak için sizin gibi okuyuculara güveniyoruz. Bu raporlama sizin için önemliyse lütfen bağış yapmayı düşünün (özellikle aylık). Bir alacaksın reklamsız bir teşekkür olarak hesaplayın.
